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下河辺明教授，秦誠一助手の研究が日経産業新聞に掲載されました。（2003年8月20日）

題目：｢半導体の品質確認効率化｣

【内容】　下河辺明教授，秦誠一助手らの研究グループは，半導体検査装置に用いるマイクロプローブを，薄膜金属ガラスの微細加工方法により製作した．従来の手法では製作困難な微細で立体的プローブを，多数個集積することが可能となり，半導体の検査工程の効率化に貢献できる．